Classification of subcellular location patterns in fluorescence microscope images based on modified threshold adjacency statistics

نویسندگانF. Mostajer Kheirkhah-Siamak Haghipour
همایش6th Iranian Machine Vision and Image Processing (MVIP)
تاریخ برگزاری همایش2010
محل برگزاری همایشاصفهان
نوع ارائهسخنرانی
سطح همایشبین المللی

چکیده مقاله