Studies of the micromorphology of sputtered TiN thin films by autocorrelation techniques

نویسندگانKamil Smagoń , Sebastian Stach , Ştefan Ţălu , Ali Arman , Amine Achour , Carlos Luna , Nader Ghobadi , Mohsen Mardani،Fatemeh Hafezi , Azin Ahmadpourian , Mohsen Ganji , Alireza Grayeli Korpi
نشریهThe European Physical Journal Plus
نوع مقالهFull Paper
تاریخ انتشار2017
رتبه نشریهISI
نوع نشریهچاپی
کشور محل چاپایران

چکیده مقاله