Stereometric and fractal analysis of sputtered Ag-Cu thin films

نویسندگانŞtefan Ţălu , Robert Saraiva Matos , Erveton Pinheiro Pinto , Sahar Rezaee , Mohsen Mardani
نشریهSurfaces and Interfaces
نوع مقالهFull Paper
تاریخ انتشار2020
رتبه نشریهISI
نوع نشریهچاپی
کشور محل چاپایران

چکیده مقاله